OKM 173 – Trinokulært Metallurgisk Mikroskop m/ Reflekslys og Polarisation

KERN OKM 173 er et specialiseret reflekslysmikroskop til metallurgiske og industrielle analyser, hvor præcis vurdering af materialers overfladestruktur er afgørende. Mikroskopet er udstyret med et trinokulært optisk system med infinity-korrigeret optik, der muliggør både visuel observation og digital dokumentation via kamera.

Instrumentet har integreret polariseringsudstyr og et 5-slots filterhjul (blå, grøn, gul, grå, klar), som forbedrer kontrast og visualisering af reflektive overflader. Den kraftige, dæmpbare 5 W LED-lyskilde sikrer stabil belysning, selv ved langvarig brug. Finfokusmekanismen med en opløsning på 0,002 mm tillader nøjagtig højdejustering under analyse.

Mikroskopet er opbygget med en robust mekanisk stage på 200 × 140 mm og har en præcis XY-justering på 76 × 52 mm. Det egner sig særligt til uigennemsigtige prøver som metaller, lodninger, overfladebehandlede emner og revnedannelser i konstruktionsmaterialer. Systemet er modulopbygget og velegnet til integration i laboratorier med krav om billedarkivering og dokumentation af proceskontrol

Specifikationer

• Okularer: HWF 10x / Ø20 mm

• Objektiver: Planakromatiske 5x, 10x, 20x, 40x

• Næsetårn: 4 positioner

• Tubusafstand: Justerbar 50–75 mm

• Optisk hoved: 30° vippet, 360° roterbart

• Belysning: 5 W LED, dæmpbar

• Stage: 200 × 140 mm, bevægelse 76 × 52 mm

• Fokus: Koaksial grov og fin (0,002 mm)

• Polarisation: Integreret analysator og polarisator

• Strømforsyning: 100–240 V AC

• Mål (BxDxH): 440 × 200 × 460 mm

• Vægt: Ca. 8 kg

Anvendelsesområder

• Visuel analyse og dokumentation i metallurgiske laboratorier

• Overfladeinspektion i elektronikproduktion og materialeforskning

• Kontrol af lodninger, revner og coating i industrielle processer

• Brugt i kvalitetskontrol og procesoptimering ved komponentproduktion

Anvendelser / Prøver

• Metalkomponenter (f.eks. stål, aluminium)

• Loddepunkter og revnedannelser

• Overfladebehandlinger og belægninger

• Mikrostrukturer og materialeovergange

• Fejlanalyse og dokumentation til QA/QC